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产品简介:模式1:使用直接接触式探头测量在激励脉冲和第一个底面回波之间的时间间隔。
模式2:使用延迟式或水浸式探头测量在激励脉冲后的第一个界面回波和第一个底面回波之间的时间间隔。
模式3:使用延迟式或水浸式探头测量在激励脉冲后紧随着第一个界面回波的两个连续底面回波之间的时间间隔。
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产品名称:美国泛美 35DL超声波测厚仪
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产品描述:
35DL超声波测厚仪
功能:
模式1:使用直接接触式探头测量在激励脉冲和第一个底面回波之间的时间间隔。
模式2:使用延迟式或水浸式探头测量在激励脉冲后的第一个界面回波和第一个底面回波之间的时间间隔。
模式3:使用延迟式或水浸式探头测量在激励脉冲后紧随着第一个界面回波的两个连续底面回波之间的时间间隔。
测量类型:厚度、声速或渡越时间
厚度测量范围;0.003-25英寸(0.008-635mm)
厚度范围取决于仪器型号、材料、探头、表面状况和选择的参数设置。
材料声速范围:
0.02000-0.7362inch/us
(0.5080-18.699mm/us)
分辨率(键盘可选)
低:0.01”(0.1mm)
标准:0.001”(0.01mm)
高:0.0001”(0.001mm)
渡越时间测量范围:0.0-109.5us渡越时间分辨率:固定在000.01us
测量更新率:
4、8、16或最大16-20HZ(取决于应用和测量模式)
探头频率范围:
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